Cari

Precise Ion Beam Based Trenching Tool (Imws-03.2) + High Performance Ga-Fib Sample Preparation (Imws-08.1) + High Performance Analyical Sem Inspection (Imws-08.2) (Pr924050-2690-P) (EXPIRED)

Permohonan untuk Proposal

Informasi Umum

   27 Apr, 2025
   Jerman
   Pengadaan Nasional
   Dipublikasikan: 27 Apr, 2025

Teks Asal

-->


Ausschreibung Precise ion beam based trenching tool (IMWS-03.2) + high performance Ga-FIB sample preparation (IMWS-08.1) + high performance analyical SEM inspection (IMWS-08.2)

Vergabe PR924050-2690-P








Bei Fragen zur Bedienung der Software AI BIETERCOCKPIT wenden Sie sich bitte zum Ortstarif an den Support
unter +49 9317 304624 (Montag bis Freitag von 9.00 Uhr bis...
Pilihan Keanggotaan

Dasar

Penuh

Perusahaan

US$550/tahun

US$1000/tahun

Biaya sesuai permintaan

Beli Beli Hubungi kami
Tolong dicatat bahwa pemberitahuan ini adalah hanya untuk informasi anda
Kami berusaha sebaiknya demi mendapatkan informasi yang tepat dan terbaru dalam situs kami, namun kami tidak jamin bahwa semua informasi yang tertera bebas dari kesalahan
Jika anda mempunyai saran-saran untuk memperbaikii/meng-update pemberitahuan ini, silahkan beritahu kami